北京2019年3月12日 /美通社/ -- 2019年2月27日，北京市第五屆發(fā)明專利獎頒獎儀式在北京會議中心舉辦。同方威視與清華大學共同申請的專利“CT系統(tǒng)和用于CT系統(tǒng)的探測裝置”獲本屆發(fā)明專利獎一等獎。北京市副市長隋振江、國家知識產權局副局長賀化、北京市知識產權局黨組書記楊東起等領導出席會議并講話，高級副總裁陳偉代表同方威視領獎。

　　CT系統(tǒng)獲北京市發(fā)明專利優(yōu)秀獎獎牌

　　同方威視高級副總裁陳偉代表公司領獎

　　本獲獎專利“CT系統(tǒng)和用于CT系統(tǒng)的探測裝置”首創(chuàng)高低能排間距的差別化設計，實現了高低能排向異性的雙能探測器結構和基于該結構的高速雙能CT檢查系統(tǒng)。基于本專利技術，同方威視在國內外首次提出了基于新型探測器結構的雙能安檢CT成像技術，形成了具有自主知識產權的新一代X射線雙能CT安檢成像系統(tǒng)，并成功研制出多款應用于民航、海關以及檢驗檢疫等領域的CT安檢成像系統(tǒng)。

　　本項目憑借突出的創(chuàng)新優(yōu)勢和顯著的經濟社會效益獲得北京市發(fā)明專利一等獎，充分體現了同方威視技術創(chuàng)新的實力與水平，展示了研發(fā)團隊技術創(chuàng)新的智慧成果。本專利獎項是對同方威視知識產權工作持續(xù)投入的肯定和鼓勵，對激發(fā)同方威視的創(chuàng)新積極性、提升知識產權創(chuàng)造和保護水平起到了巨大的推動作用。

　　北京市發(fā)明專利獎是北京市政府設立的重要獎項，設置該獎項的目的是發(fā)揮政府主導作用，鼓勵創(chuàng)新主體的創(chuàng)新成果及時取得專利權，提高發(fā)明專利質量。第五屆北京市發(fā)明專利獎共評選出獲獎項目36項，其中特等獎1項、一等獎5項、二等獎10項、三等獎20項。截至目前，同方威視累計獲得北京市發(fā)明專利特等獎1項，北京市發(fā)明專利一等獎2項。